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	1.	封面仅供参考	Electromechanical Components and Systems Design 订购中 (含光盘) 著者: Benwill Publishing Corp. 出版社: Benwill Publishing Corp. 出版日期: 1957- 文献类型: 期刊 , 索书号: 95.732/ED 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.	封面仅供参考	Personal computing 订购中 (含光盘) 著者: 出版社: Benwill Publishing Co. 出版日期: 文献类型: 期刊 , 索书号: 95.738/PC 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.	封面仅供参考	2nd Microelectronics Measurement Technology Seminar 订购中 (含光盘) 著者: (San Jose)Microelectronics Measurement Technology Seminar 出版社: Benwill 出版日期: 1980 文献类型: 图书 , 索书号: 73.75157083/MMT(80) 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	4.	封面仅供参考	ATE Seminar/Exhibit automated testing for electronics manufacturing 订购中 (含光盘) 著者: Circuits Manufacturing Magazine 出版社: Benwill 出版日期: 1978 文献类型: 图书 , 索书号: 73.865083/CMM(78) 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	5.	封面仅供参考	ATE Seminar and Exhibit automated testing for electronics manufacturing 订购中 (含光盘) 著者: Circuits Manufacturing Magazine 出版社: Benwill 出版日期: 1977 文献类型: 图书 , 索书号: 73.865083/CMM(77) 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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