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B.K
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封面仅供参考
美语对照手册
已借10次.
订购中
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著者:
斯旺.B.K.
出版社:
香港万里书店
出版日期: 1976
文献类型:
图书 , 索书号:
41.69073/SW
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2.
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Electrons and phonons in semiconductor multilayers
订购中
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著者:
B.K. Ridley
出版社:
北京大学出版社
出版日期: 2014.8
文献类型:
图书 , 索书号:
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3.
封面仅供参考
Electrons and phonons in semiconductor multilayers /
已借1次.
订购中
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著者:
B.K. Ridley
出版社:
北京大学出版社,
出版日期: 2014.
文献类型:
图书 , 索书号:
53.632/RBK
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4.
封面仅供参考
Principles of dielectrics
订购中
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著者:
Scaife
B.K.P.
出版社:
Clarendon Press
出版日期: 1989
文献类型:
图书 , 索书号:
73.173/SBKP
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5.
封面仅供参考
Quantum processes in semiconductors
订购中
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著者:
Ridley
B.K.
出版社:
Clarendon Press
出版日期: 1988
文献类型:
图书 , 索书号:
53.63211/RBK(2)
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著者简介
6.
封面仅供参考
Quantum processes in semiconductors
订购中
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著者:
Ridley
B.K.
出版社:
Clarendon Pr.
出版日期: 1982
文献类型:
图书 , 索书号:
53.63211/RBK
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著者简介
7.
封面仅供参考
Modern crystallography II
已借1次.
订购中
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著者:
Vainshtein
B.K.
出版社:
Springer
出版日期: 1982
文献类型:
图书 , 索书号:
54.9/VBK/2
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内容简介
著者简介
8.
封面仅供参考
Soil Mechanics ��� Foundation Engineering
订购中
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著者:
Ramiah
B.K
出版社:
Oxford & IBH Pub.,
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
86.11/PBK
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著者简介
9.
封面仅供参考
EXAFS Spectroscopy: Techniques ��� applications
订购中
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著者:
Teo
B.K.
出版社:
Plenum Pr.
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
54.646/TBK
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10.
封面仅供参考
Characterzation of crystal growth defects by X-Ray methdos
订购中
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著者:
Tanner
B.K.
出版社:
lenum r.
出版日期: 1980
文献类型:
图书 , 索书号:
54.923/TBK2
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