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1.
封面仅供参考
碳化硅宽带隙半导体技术 已借24次.
著者: 郝跃等
出版社: 科学出版社   出版日期: 2000.5
文献类型: 图书 , 索书号: 73.71/HY
2.
封面仅供参考
微纳米MOS器件可靠性与失效机理 已借7次.
出版社: 科学出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/52
3.
封面仅供参考
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2002.4
文献类型: 图书 , 索书号: 73.9512/YZG
4.
封面仅供参考
儒学人文小品
出版社: 巴蜀书社   出版日期: 2008.02
文献类型: 图书 , 索书号:
5.
封面仅供参考
氮化物宽禁带半导体材料与电子器件 已借10次.
出版社: 科学出版社   出版日期: 2013
文献类型: 图书 , 索书号: TN304/13
6.
封面仅供参考
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2025.06
文献类型: 图书 , 索书号: