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1.
电子元器件失效分析与典型案例 已借18次.
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: TN601/1
2.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN605/13-2
3.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2020
文献类型: 图书 , 索书号:
4.
可靠性物理
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TN6/66
5.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2013
文献类型: 图书 , 索书号: TN02/31
6.
7.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TN430.2/4
8.
电子封装技术与可靠性 已借2次.
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书 , 索书号: TN05/21