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1.
碳化硅宽带隙半导体技术 已借24次.
著者: 郝跃等
出版社: 科学出版社   出版日期: 2000.5
文献类型: 图书 , 索书号: 73.71/HY
2.
微纳米MOS器件可靠性与失效机理 已借7次.
出版社: 科学出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/52
3.
氮化物宽禁带半导体材料与电子器件 已借10次.
出版社: 科学出版社   出版日期: 2013
文献类型: 图书 , 索书号: TN304/13
4.
中国独立纪录片档案 已借20次.
出版社: 陕西师范大学出版社   出版日期: 2004
文献类型: 图书 , 索书号: K825.78/41
5.
著者: 王战军
出版社: 中国科学技术出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: G643/162-2022