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131.
集成电路测试基础
著者: 谷颜秋
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/14
132.
133.
著者: 福捷
出版社: 中信出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: K837.125.6/104
134.
出版社: 中信出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: B82-49/54(2)
135.
著者: 刘志丹
出版社: 吉林出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: A811.22/41
136.
著者: 杨静
出版社: 吉林出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: F275.2/265
137.
出版社: 吉林出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: F715.4/113
138.
著者: 陈群
出版社: 吉林出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: G252-39/6
139.
著者: 李燕燕
出版社: 吉林出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: G807.4-39/1
140.
著者: 郭书胜
出版社: 吉林出版集团股份有限公司   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: G808.14/87