名称: | |
描述: | |
公开/私有: | 公开 私有 |
现代VLSI器件基础 |
|
题名/责任者:
|
现代VLSI器件基础 / (美) 陶元, 甯德雄著 , 黄如 ... [等] 译 |
ISBN:
|
978-7-121-38073-0 价格: CNY128.00 |
语种:
|
汉语 |
载体形态:
|
XXIII, 484页 : 图 ; 26cm |
出版发行:
|
北京 : 电子工业出版社, 2020 |
内容提要:
|
本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理,这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的;然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。本书用大量篇幅对现代CMOS器件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论。 |
主题词:
|
VLSI芯片 电路设计 |
中图分类法
:
|
TN470.2 版次: 5 |
主要责任者:
|
陶元 著 |
主要责任者:
|
甯德雄 著 |
次要责任者:
|
黄如 译 |
次要责任者:
|
王润声 译 |
次要责任者:
|
黎明 译 |
标签:
|
|
相关资源:
|
查看本书在全国高校图书馆的外文期刊馆藏信息与数字资源,并可浏览电子期刊 查看本书在全国高校图书馆的馆藏信息与数字资源,并可浏览电子图书 worldcate搜索 去google搜索图书 到百度书库搜索 查看本书在豆瓣网的数字资源,并可选购电子图书以及发布信息 浏览本书在中国知网的数字资源。 |
HEA| |01905cam 2200397 450 001| |011100401266 005| |20220218085434.6 010| |▼a978-7-121-38073-0▼dCNY128.00 099| |▼aCAL 012020248404 100| |▼a20220218d2020 ekmy0chiy50 ea 101|1 |▼achi▼ceng 102| |▼aCN▼b110000 105| |▼aak a 000yy 106| |▼ar 200|1 |▼a现代VLSI器件基础▼Axian dai VLSI qi- | | jian ji chu▼f(美) 陶元, 甯德雄著▼d= - | |Fundamentals of modern VLSI de- | |vices▼fYuan Taur, Tak H. Ning▼- | |g黄如 ... [等] 译▼zeng 210| |▼a北京▼c电子工业出版社▼d2020 215| |▼aXXIII, 484页▼c图▼d26cm 225|2 |▼a集成电路系列丛书▼Aji cheng dian lu x- | |i lie cong shu 304| |▼a题名页题其余责任者: 王润声, 黎明, 蔡一茂, 谢倩,- | | 安霞 305| |▼a据原书第2版译出 306| |▼a由Yuan Taur,Tak H. Ning授予电子工业出版社 320| |▼a有书目 (第462-484页) 330| |▼a本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书- | |首先分析了VLSI器件的基本器件物理,这对于单个器件的参数设- | |计是非常有帮助的;然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代- | |小尺寸VLSI器件性能的影响。本书用大量篇幅对现代CMOS器- | |件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论- | |。 410| 0|▼12001 ▼a集成电路系列丛书 500|10|▼aFundamentals of modern VLSI - | |devices▼mChinese 606|0 |▼aVLSI芯片▼AVLSI xin pian▼x电路设计 690| |▼aTN470.2▼v5 701| 0|▼a陶元▼Atao yuan▼g(Taur, Yuan),▼f1946-▼4著 701| 0|▼a甯德雄▼Aning de xiong▼g(Ning, T- | |ak H.),▼f1943-▼4著 702| 0|▼a黄如▼Ahuang ru▼4译 702| 0|▼a王润声▼Awang run sheng▼4译 702| 0|▼a黎明▼Ali ming▼4译 801| 0|▼aCN▼bNMU▼c20200803 801| 2|▼aCN▼bPUL▼c20201211 801| 2|▼aCN▼bHNU▼c20220218 998| |▼aNMU