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1.
Scanning electron microscopy. 1
订购中
(含光盘)
著者:
Johari
Om.
出版社:
Scanning Electron Microscopy,Inc
出版日期: 1979
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/JO(79)/1
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内容简介
著者简介
2.
Scanning electron microscopy. 3
订购中
(含光盘)
著者:
Johari
Om.
出版社:
Scanning Electron Microscopy,Inc
出版日期: 1979
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/JO(79)/3
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内容简介
著者简介
3.
Scanning electron microscopy/1978/I: An international review of advances in instrumentation techniques,theory and physical applications of the scanning electron microscope.
订购中
(含光盘)
著者:
Johari
Om.
出版社:
Scanning Electron Microscopy,Inc.,
出版日期: 1978
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/JO(78)/1
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内容简介
著者简介
4.
Scanning electron microscopy/1978/II: an international review of advances in biological techniques and applications of the scanning electron microscope.
订购中
(含光盘)
著者:
Johari
Om.
出版社:
Scanning Electron Microscopy,Inc.,
出版日期: 1978
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/JOB(78)/2
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内容简介
著者简介
5.
Microwave engineering and applications
已借2次.
订购中
(含光盘)
著者:
Gandhi
Om P.
出版社:
Pergamon
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
73.459/GOP
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内容简介
著者简介
6.
Energy the solar-hydrogen alternative
订购中
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著者:
Bockris
J.Om.
出版社:
The Arehitectural pr.
出版日期: 1976
文献类型:
图书 , 索书号:
72.9/BJO
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内容简介
著者简介
7.
Miceowave engineering and applications
订购中
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著者:
(美国)Gandhi
Om P著
出版社:
Pergamon Press Ltd.
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
TN61/GOP
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内容简介
著者简介
8.
Advances in fractional calculus : theoretical developments and applications in physics and engineering /
订购中
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著者:
Sabatier
J.
Agrawal
Om Prakash.
Machado
J. A. Tenreiro.
出版社:
世界图书出版公司,
出版日期: 2014.
文献类型:
图书 , 索书号:
O172/SJ5
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内容简介
著者简介
9.
电力系统稳定性:建模、分析与控制:modeling, analysis and control
已借11次.
订购中
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著者:
撒拉姆
马利克
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2018
文献类型:
图书 , 索书号:
TM712/15
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内容简介
著者简介
10.
配电系统
已借16次.
订购中
(含光盘)
著者:
撒拉姆
马力克
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TM727/57
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