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1.
出版社: Edward Elgar Publishing,   出版日期: 2017.
文献类型: 图书 , 索书号: D913.2/GA-1
2.
出版社: Edward Elgar Publishing,   出版日期: 2017.
文献类型: 图书 , 索书号: D913.2/GA-2
3.
出版社: GLF editori Laterza,   出版日期: 2009.
文献类型: 图书 , 索书号: D754.69/TA /32.5471104/TA
4.
出版社: N. Zanichelli ;   出版日期: 2008.
文献类型: 图书 , 索书号: D954.636/AA /35.54715/AA
5.
出版社: Page one ;   出版日期: 2007.
文献类型: 图书 , 索书号: J534/SG2
6.
出版社: Zanichelli ;   出版日期: 2005.
文献类型: 图书 , 索书号: 34.03/MA2
7.
Thermal testing of integrated circuits / 已借1次.
出版社: Kluwer Academic Publishers,   出版日期: c2002.
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/AJ
8.
International law
出版社: Oxford University Press   出版日期: 2001
文献类型: 图书 , 索书号: 35.9/CA
9.
Empire /
出版社: Harvard University Press,   出版日期: c2000.
文献类型: 图书 , 索书号: 31.255/HM
10.
出版社: John Wiley & Sons,Inc.   出版日期: 1989
文献类型: 图书 , 索书号: 51.632/MA/2
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