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菅沼克昭
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菅沼克昭
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T 工业技术
(3)
图书馆
湖南大学图书馆
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馆藏地点
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主题
功率半导体器件
(1)
可靠性估计
(1)
封装工艺
(1)
焊接工艺
(1)
焊接的历史至少有5000年,但在这长达5000年的时间里,焊接都被认为是“低温下的简单连接方法”,因此这方面的研究屈指可数。近年来,随着机械工业的高速发展,高度可靠的连接技术也越发重要,可以说是高附加值制造产业的支柱。焊接无铅化虽然需要克服许多困难,封装产业可预见的高附加值依旧成为了研究进展的动力。可以说,21世纪是无铅焊接的时代,也是我们重新认识连接可靠性的契机。本书第一部分的1-6章主要为焊接理论基础,第7章介绍了各种连接工艺。第二部分总结了封装可靠性的评判标准和连接失效行为。为实现高附加值的封装技术,本书大半篇幅用于可靠性的讨论。本书各章节相互独立,力求使读者能在最短的时间内找到有用的信息。
(1)
锡
(1)
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著者
(日)菅沼克昭著
(2)
(日) 菅沼克昭编著
(1)
何钧, 许恒宇译
(1)
克昭
(1)
宁晓山
(1)
宁晓山译
(1)
菅沼
(1)
菅沼克昭
(1)
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出版日期
2004
(1)
2017
(1)
2021
(1)
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文献类型
图书
(3)
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语言种类
汉语
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1.
无铅焊接技术
已借11次.
订购中
(含光盘)
著者:
菅沼克昭
出版社:
科学出版社
出版日期: 2004
文献类型:
图书 , 索书号:
TG443/3
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
2.
无铅钎焊技术基础
订购中
(含光盘)
著者:
(日)菅沼克昭著
出版社:
科学出版社
出版日期: 2017.6
文献类型:
图书 , 索书号:
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
3.
SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
已借6次.
订购中
(含光盘)
著者:
菅沼
克昭
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2021
文献类型:
图书 , 索书号:
TN305.94/1
在馆信息
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著者简介
共 1 页
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