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T 工业技术 (8)

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	1.		电子元器件失效分析与典型案例已借18次. 订购中 (含光盘) 著者: 孔学东恩云飞出版社: 国防工业出版社出版日期: 2006 文献类型: 图书 , 索书号: TN601/1 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.		电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践已借1次. 订购中 (含光盘) 著者: 孔学东恩云飞陆裕东出版社: 电子工业出版社出版日期: 2013 文献类型: 图书 , 索书号: TN02/31 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.		电子微组装可靠性设计．基础篇订购中 (含光盘) 著者: 何小琦恩云飞宋芳芳出版社: 电子工业出版社出版日期: 2020 文献类型: 图书 , 索书号: TN605/13 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	4.		可靠性物理订购中 (含光盘) 著者: 恩云飞谢少锋何小琦出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: TN6/66 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	5.		ESD揭秘：静电防护原理和典型应用：from semiconductor manufacturing to product use 已借3次. 订购中 (含光盘) 著者: 沃尔德曼出版社: 机械工业出版社出版日期: 2014 文献类型: 图书 , 索书号: TN430.2/4 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	6.		电子封装技术与可靠性已借2次. 订购中 (含光盘) 著者: 阿德比利派克出版社: 化学工业出版社出版日期: 2012 文献类型: 图书 , 索书号: TN05/21 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	7.		电子微组装可靠性设计．[2]，应用篇订购中 (含光盘) 著者: 何小琦恩云飞周斌出版社: 电子工业出版社出版日期: 2022 文献类型: 图书 , 索书号: TN605/13-2 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	8.		半导体集成电路的可靠性及评价方法订购中 (含光盘) 著者: 章晓文恩云飞工业和信息化部电子第五研究所出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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