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	1.		半导体测试技术已借8次. 订购中 (含光盘) 著者: 孙以材出版社: 冶金工业出版社出版日期: 1984.10 文献类型: 图书 , 索书号: 73.72/SYC 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.		微电子机械加工系统 (MEMS) 技术基础订购中 (含光盘) 著者: 孙以材庞冬青出版社: 冶金工业出版社出版日期: 2009 文献类型: 图书 , 索书号: TN405/10 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.		电阻率测试理论与实践已借3次. 订购中 (含光盘) 著者: 孙以材汪鹏孟庆浩出版社: 冶金工业出版社出版日期: 2011 文献类型: 图书 , 索书号: O441.1/9 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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