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Ken Men Ben Fen Wen Lens Jean Jens Kent zeng


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1.
2.
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.138/661
3.
超大规模集成电路测试 已借30次.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书 , 索书号: TN470.7/2
4.
出版社: 中国建筑工业出版社   出版日期: 2007
文献类型: 图书 , 索书号: TU323.504/2
5.
VLSI测试方法学和可测性设计 已借42次.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2005.1
文献类型: 图书 , 索书号: TN47/17
6.
著者: A. 戴维
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2004
文献类型: 图书 , 索书号: TB472/41
7.
出版社: 九州出版社   出版日期: 2003
文献类型: 图书 , 索书号: B822.9/13
8.
证券经济学 已借5次.
著者: 梁峰
出版社: 东北财经大学出版社   出版日期: 1996
文献类型: 图书 , 索书号: F830.9/486