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主题

1. transmission electron microscopy (4)
2. microscopy (3)
3. materials (2)
4. 透射电子显微术 (2)
5. analysis (1)
6. nanostructured materials (1)
7. scanning transmission electron microscopy (1)
8. semiconductors (1)
9. x-ray diffractometer (1)
10. x射线衍射 (1)
11. 工程材料 (1)
12. 高等学校 (1)
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著者

1. (美) david b. williams, c. barry carter著 (1)
2. (美) 布伦特·福尔兹, 詹姆斯·豪著 (1)
3. buseck,peter r (1)
4. carter, c. barry (1)
5. fryer,j.r (1)
6. fultz, b (1)
7. graef, marc de (1)
8. howe, james m., (1)
9. rosenauer, andreas, (1)
10. tanaka, nobuo, (1)
11. williams, david b (1)
12. 卡特 (1)
13. 吴自勤 (1)
14. 吴自勤 ... [等] 译 (1)
15. 威廉斯 (1)
16. 富尔茨 (1)
17. 李建奇 (1)
18. 李建奇等译 (1)
19. 豪 (1)
20. 显示更多..

出版日期

1. 2015 (1)
2. 2017 (1)
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文献类型

1. 图书 (9)
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语言种类

1. 汉语 (2)
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