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Electron microscopy and analysis
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Electron microscopy and analysis
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电子显微镜分析
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electron microscopy and anlaysis group
(1)
institute of physics
(1)
institute of physics electron microscopy & analysis group conference
(1)
loretto,m.h
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misell,d.l
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proceedings of ghe institute of physics electron microscopy and analysis group
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rosenauer, andreas,
(1)
tanaka, nobuo,
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the institute of physis electron miceoscopy & analysis group conference
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章晓中
(1)
章晓中编著
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黄孝瑛
(1)
黄孝瑛著
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出版日期
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1.
Electron Microscopy ��� Analysis
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著者:
(Cambridge)The Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference
出版社:
The Instrtute of Physics
出版日期: 1982
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/IPE(81)
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2.
Electron microscopy and analysis 1985: proceedings of the...
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著者:
(Newcastle upon Tyne)The Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference
出版社:
Adam Hilger Ltd
出版日期: 1986
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/IPE(85)
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3.
Developments in electron microscopy and analysis
订购中
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著者:
Misell
D.L.
出版社:
Institute of Physics
出版日期: 1977
文献类型:
图书 , 索书号:
79.871088/EMA(77)
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4.
Developments in electron croscopy and analysis
订购中
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著者:
Electron Microscopy and Anlaysis Group
出版社:
?
出版日期: ?
文献类型:
图书 , 索书号:
79.871083/EMA
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内容简介
著者简介
5.
Electron microscopy and analysis 1979
订购中
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著者:
Institute of Physics
出版社:
?
出版日期: 1980
文献类型:
图书 , 索书号:
50.99083/IP(79)
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内容简介
著者简介
6.
Defect Analysis in Electron Microscopy
订购中
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著者:
Loretto
M.H.
出版社:
Chapman and Hall
出版日期: 1975
文献类型:
图书 , 索书号:
79.871/LMH
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内容简介
著者简介
7.
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state /
订购中
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著者:
Andreas Rosenauer.
出版社:
Springer,
出版日期: c2003.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.71/RA
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内容简介
著者简介
8.
Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials : basics of imaging and analysis /
订购中
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著者:
Tanaka
Nobuo
出版社:
Imperial College Press,
出版日期: c2015.
文献类型:
图书 , 索书号:
79.871/TN
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试读信息
内容简介
著者简介
9.
电子显微分析
已借69次.
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著者:
章晓中
出版社:
清华大学出版社
出版日期: 2006.12
文献类型:
图书 , 索书号:
O657.99/1
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内容简介
著者简介
10.
材料微观结构的电子显微学分析
已借63次.
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著者:
黄孝瑛
出版社:
冶金工业出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书 , 索书号:
TB3/148
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