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1.
半导体测试技术 已借8次.
著者: 孙以材
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 1984.10
文献类型: 图书 , 索书号: 73.72/SYC
2.
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/10
3.
电阻率测试理论与实践 已借3次.
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 2011
文献类型: 图书 , 索书号: O441.1/9