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61.
出版社: Springer   出版日期: c2005.
文献类型: 图书 , 索书号: O212/LEL2(3)
62.
Thermal testing of integrated circuits / 已借1次.
出版社: Kluwer Academic Publishers,   出版日期: c2002.
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/AJ
63.
Low-speed wind tunnel testing 已借2次.
出版社: John Wiley & Sons, Inc.   出版日期: 1999
文献类型: 图书 , 索书号: 87.82/BJB(3)
64.
出版社: West Pub. Cor.   出版日期: 1993.
文献类型: 图书 , 索书号: F713-44/ZWG
65.
出版社: Arco Publishing, Inc.   出版日期: 1989
文献类型: 图书 , 索书号: G643-44/MTH
66.
出版社: ACADEMIC PR.   出版日期: 1989
文献类型: 图书 , 索书号: O212.1/KT
67.
出版社: John Wiley & Sons,Inc   出版日期: 1989
文献类型: 图书 , 索书号: 63.371/DDG
68.
The best TOEFL test book
出版社: Addison-Wesley Publishing Comp   出版日期: 1988
文献类型: 图书 , 索书号: H31-44/SN
69.
出版社: The Plastics & Rubber Institute   出版日期: 1988
文献类型: 图书 , 索书号: 71.22/BRP(3)
70.
出版社: McGraw-Hill Book Co.,Inc.,   出版日期: 1987
文献类型: 图书 , 索书号: 73.87221/HWE